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產品中心

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  • In-SEM HT高溫原位納米壓痕儀

    InSEM HT高溫原位納米壓痕儀(高溫)通過在真空環境中單加熱jian端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)或立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協助開發新的實驗。科學出版物表明,InSEM HT結果與傳統大型高溫試驗數據吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開發研究材料的一個非常有價值的工具。

    更新時間:2024-06-17
    產品型號:In-SEM HT
    瀏覽量:1782
  • Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

    原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產品既可以工作在真空環境下進行各種原位力學測試;也可以直接在大氣環境下測試。本產品可進行硬度和楊氏模量測試、連續剛度測試、力學性能譜圖、納米動態力學分析、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試,可同時將SEM圖像與力學測試數據同步。還可以進行快速壓痕測量,這是在惰性環境(如手套箱)中研究非均均相材料的重要手段。

    更新時間:2024-06-17
    產品型號:Nano Flip
    瀏覽量:1878
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