為了滿足現代材料研究的挑戰,Swift開發了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統,比如掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD,樣品加熱和冷卻,可實現...
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Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...
查看詳情Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術的經濟三維光學輪廓儀,其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器可測樣。
查看詳情iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊,用戶友好的納米機械測量系統,設計用于硬涂層,薄膜和少量材料。該系統旨在進行準確,可重復的納米級機械測試,包括壓痕,硬度,劃痕和通用納米級測試。iNano具有很...
查看詳情Nano Indenter® G200原位納米力學測試系統是一種準確,靈活,使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度,包括從納米到毫米的六個數量級的形變測量。 可測量聚合...
查看詳情SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振(SPR)技術。是世界上1st臺將表面等離子體共振技術和光學顯微鏡巧妙結合為一體的生物傳感檢測儀。
查看詳情與X射線用氮化硅窗口類似,透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小,適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規格。同時SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...
查看詳情自由曲面三維面型檢測儀自由曲面光學元件應用于智能車載顯示、AR 顯示、手機鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領域,自由曲面三維面型檢測儀,能夠非接觸測量光學鏡面元件的三維面型數據,開展三維輪廓分析和三...
查看詳情碳化硅SiC長晶設備是實現高質量SiC晶體生長、高純度原料合成、高溫晶體熱處理的專業設備。廣泛應用于SiC晶體生長、原料合成、晶體熱處理領域。可以生長6/8英寸的晶錠。
查看詳情MPCVD金剛石長晶設備Intelligent MPCVD Dimond Growth System (IMD)系列金剛石晶體生長系統,是實現高質量金剛石晶體生長、高純度晶體薄膜沉積、高溫晶體熱處理的...
查看詳情Desk V 鍍膜機使用一個2英寸的陰極進行濺射,由一個最大輸出為100毫安的直流電源驅動。使用傾斜/旋轉臺來實現好的樣品覆蓋,特別是在粗糙的表面。Desk V還可以在沉積前用蝕刻臺和快門對樣品進行預...
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